两面观察测量显微镜
品牌:日本UNIOn
型号：DCM-40/60
DCM-40/60是一款设计独特的显微镜，可分别或同时观察物体的表面和底面图像，并对两图像进行比较，还可以通过测量装置测量两图像（表面和底面）的偏差。
可选的物镜有五种，放大倍率从50X~100X。测量精度可达1μm。
DCM-40/60主要应用于微电子行业，特别是在半导体行业。产品上下面尺寸有偏移时就可以直接对比测量，减少其它间接测量方式的误差且不会损坏产品。例如：晶圆划片基准印字偏移，柔性线路板线路间距，陶瓷电容片切割对位和IC框架边缘质量等应用。
规格：
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型号 |
DCM-40 |
DCM-60 |
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物镜 |
5X, 10X, 20X ,40X, 100X |
5X, 10X, 20X ,40X, 100X |
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工作台 |
50x50mm ~100x100mm |
150x150mm |
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光源 |
150W卤素灯2套 |
150W卤素灯2套 |
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工件厚度 |
20mm |
30mm |
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选配件 |
照相系统、TV系统 |
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测量步骤：
1.将"光路选择开关"旋转到"Top& Bottom"位置，调整上、下物体的光轴至重合。
2.将工件置于工作台上。旋转"光路选择开关"到"Top" 位置，对焦上表面. .
3.旋转“光路选择开关"到"Bottom” 位置， 对焦下表面。.
4.将“光路选择开关"旋转到"Top &Bottom"位置，测量两图像的位置偏差。
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